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Patents
14. 「電子スピン共鳴装置及び劣化評価方法」、
PCT/JP2022/043495、CN 202280066390.5
Inventor: Kazuhiro Marumoto
PCT Filed: Nov. 25, 2022
Date: CN, March 29, 2024
13. 「電子スピン共鳴装置及び劣化評価方法」、
PCT/JP2022/043495、US 18/696741
Inventor: Kazuhiro Marumoto
PCT Filed: Nov. 25, 2022
Date: US, March 28, 2024
12. 「電子スピン共鳴装置及び劣化評価方法」、
PCT/JP2022/043495、EP 22917655.7
Inventor: Kazuhiro Marumoto
PCT Filed: Nov. 25, 2022
Date: EP, March 27, 2024
11. 「電子スピン共鳴装置及び劣化評価方法」、
PCT/JP2022/043495、KR 10-2024-7009462
Inventor: Kazuhiro Marumoto
PCT Filed: Nov. 25, 2022
Date: KR, March 21, 2024
10. 「空洞共振器及びＥＳＲ測定装置」、
特願2023-111931
発明者：鈴木貴之、丸本一弘、山口世力
出願日：令和5年7月7日（July 7, 2023）
9. 「電子スピン共鳴装置及び劣化評価方法」、
PCT/JP2022/043495、特願2022-001004
発明者：丸本一弘
出願日：令和4年1月6日（Jan. 6, 2022）、国際出願日：令和4年11月25日（Nov. 25, 2022）、指定国移行日：2024年1月5日（特願2023-572372）
8. 「電子スピン測定用ホルダおよび電子スピン測定装置」、
特願2018-006469
発明者：丸本一弘
出願日：平成30年1月18日（Jan. 18, 2018）
7. “ELECTRON SPIN MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD”,
PCT/JP2009/005094, WO2010/041393A1, EP 09818933.5
Inventor: Kazuhiro Marumoto
PCT Filed: Oct. 2, 2009, PCT Pub. Date: Apr. 15, 2010
Date: EP, May 5, 2011
6. “ELECTRON SPIN MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD”,
PCT/JP2009/005094, WO2010/041393A1, KR 10-2011-7010305
Patent No.: 10-1671041, Date of Patent: Oct. 25, 2016
Inventor: Kazuhiro Marumoto
PCT Filed: Oct. 2, 2009, PCT Pub. Date: Apr. 15, 2010
Date: KR, May 4, 2011
5. “ELECTRON SPIN MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD”,
PCT/JP2009/005094, WO2010/041393A1, US 13/122,819
Patent No.: US 8,779,766 B2, Date of Patent: Jul. 15, 2014
Inventor: Kazuhiro Marumoto
PCT Filed: Oct. 2, 2009, PCT Pub. Date: Apr. 15, 2010
Date: US, Apr. 6, 2011, Prior Publication Date: US 2011/0193559 A1, Aug. 11, 2011
4. 「電子スピン測定装置及び測定方法」、
PCT/JP2009/005094、WO2010/041393A1、特願2010-532792
特許第5578436号 登録日：平成26年7月18日（Jul. 18, 2014）
発明者：丸本一弘
出願日：平成21年10月2日（Oct. 2, 2009）、国際公開日：2010年4月15日、指定国移行日：2011年3月2日（JP）
3. 「有機薄膜太陽電池」、
特願2009-205392、特開2011-060795、
発明者：丸本一弘、
出願日：2009年9月7日、公開日：2011年3月24日
2. 「有機薄膜太陽電池の電子スピン測定方法及び有機薄膜太陽電池」、
特願2008-282823、
発明者：丸本一弘、
出願日：2008年11月4日
1. 「有機薄膜素子の電子スピン測定方法及び有機ＥＬ素子」、
特願2008-259622、
発明者：丸本一弘、
出願日：2008年10月6日