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Patents

10. 「空洞共振器及びESR測定装置」、

特願2023-111931

発明者:鈴木貴之、丸本一弘、山口世力

出願日:令和5年7月7日(July 7, 2023)

 

9. 「電子スピン共鳴装置及び劣化評価方法」、

PCT/JP2022/043495、特願2022-001004

発明者:丸本一弘

出願日:令和4年1月6日(Jan. 6, 2022)、国際出願日:令和4年11月25日(Nov. 25, 2022)

 

8. 「電子スピン測定用ホルダおよび電子スピン測定装置」、

特願2018-006469

発明者:丸本一弘

出願日:平成30年1月18日(Jan. 18, 2018)

 

7. “ELECTRON SPIN MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD”,

PCT/JP2009/005094, WO2010/041393A1, EP 09818933.5

Inventor: Kazuhiro Marumoto

PCT Filed: Oct. 2, 2009, PCT Pub. Date: Apr. 15, 2010

Date: EP, May 5, 2011

 

6. “ELECTRON SPIN MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD”,

PCT/JP2009/005094, WO2010/041393A1, KR 10-2011-7010305

Patent No.: 10-1671041, Date of Patent: Oct. 25, 2016

Inventor: Kazuhiro Marumoto

PCT Filed: Oct. 2, 2009, PCT Pub. Date: Apr. 15, 2010

Date: KR, May 4, 2011

 

5. “ELECTRON SPIN MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD”,

PCT/JP2009/005094, WO2010/041393A1, US 13/122,819

Patent No.: US 8,779,766 B2, Date of Patent: Jul. 15, 2014

Inventor: Kazuhiro Marumoto

PCT Filed: Oct. 2, 2009, PCT Pub. Date: Apr. 15, 2010

Date: US, Apr. 6, 2011, Prior Publication Date: US 2011/0193559 A1, Aug. 11, 2011

 

4. 「電子スピン測定装置及び測定方法」、

PCT/JP2009/005094、WO2010/041393A1、特願2010-532792

特許第5578436号 登録日:平成26年7月18日(Jul. 18, 2014)

発明者:丸本一弘

出願日:平成21年10月2日(Oct. 2, 2009)、国際公開日:2010年4月15日、指定国移行日:2011年3月2日(JP)

 

3. 「有機薄膜太陽電池」、

特願2009-205392、特開2011-060795、

発明者:丸本一弘、

出願日:2009年9月7日、公開日:2011年3月24日

 

2. 「有機薄膜太陽電池の電子スピン測定方法及び有機薄膜太陽電池」、

特願2008-282823、

発明者:丸本一弘、

出願日:2008年11月4日

 

1. 「有機薄膜素子の電子スピン測定方法及び有機EL素子」、

特願2008-259622、

発明者:丸本一弘、

出願日:2008年10月6日