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お知らせ
（2014/ 5/14 更新）
| 装 置 名 |
更新日 |
お 知 ら せ |
| 光電子分光(XPS/UPS)装置（1-2） |
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| 液中走査型プロープ顕微鏡装置（1-3） |
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| システムソースメータ（1-4） |
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| 紫外可視吸収反射率評価システム（1-5） |
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| 質量分析計（2） |
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| 顕微ラマン分光装置（3-1） |
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| 低波数高分解能ラマン分光装置（3-2） |
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| 顕微赤外・ラマン分光装置（3-3） |
2012/12/ 6
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当分の間、顕微IR測定とマクロIR測定は出来ません。
FTラマン測定は使用可能です。
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| 磁場中測定装置（3-4） |
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| 原子間力顕微鏡（AFM）（4-2） |
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| 表面処理装置（4-3） |
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| 電子スピン解析システム（5-2） |
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| 小角Ｘ線回折装置（SAXD）（5-3） |
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| 円二色性分散計（5-4） |
2014/ 5/14 |
2014/ 6/ 1より使用料を値上げします。 |
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