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ナノサイエンス・プロジェクト共用装置

原子間力顕微鏡(AFM)    2011/ 2/ 9 更新

◇装置概要
 本装置は原子レベルで物質表面 の正確な形状測定や物性評価(摩擦力など)をすることが可能な装置であり、 人の目や光学顕微鏡では見るこ とのできないナノレベルの観察をするときに使用します。
 測定方法は、「探針(プロー ブ)」と呼ばれる非常に細い針でサンプル表面をなぞりながら形状を読み取っていきます。
 S-imageは、大気中で簡便に高分解能観察を行うことができる、高分解能小型プローブ顕微鏡です。
 低コヒーレント光学系の採用や熱源の抑制により高分解能化、低ドリフト化、光干渉の低減化を実現しました。 更に溶液中での測定、機械物性観察、電磁気物性観察を可能にした、拡張性を持った多機能型プローブ顕微鏡です。

◇装置仕様
エスアイアイ・ナノテクノロジー製 S-image 高分解能小型プローブ顕微鏡
・分解能: 原子分解能
・走査範囲: XY:20μm Z:1.5μm
・試料サイズ: 35mmΦ 厚さ10mm
・測定モード: AFM、DFM、FFM、PM(位相)、MFM(磁気力)、CURRENT(電流)

 
◇利用料金
300円/1時間 

◇装置管理者連絡先
山部紀久夫 (学際物質科学研究センター)
  6475、yamabe at esys.tsukuba.ac.jp(atを@に書き換えて下さい)
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